搜先有技術

行結構之先有技術之搜，以得早於某發明之載、利、產、揭。用以量可專利（此可專乎）、挑戰效力（此專宜授乎）、立自由運作（此設覆於既權乎）。

用時

• 申專利之前，量發明之新與非顯乃用
• 挑戰既專之效，得審察所失之先有技術乃用
• 為自由運作之析，得限阻專之先有技術乃用
• 書防衛之揭，阻他人專之乃用
• 應專利局之動，問新或非顯乃用

入

• 必要：發明之述（其為、其行、所解之患）
• 必要：搜之旨（可專、無效、FTO、防衛）
• 必要：關鍵之日（專申之日，或先有技術之發明日）
• 可選：已知之相關專或載
• 可選：技分類之碼（IPC、CPC）
• 可選：域之要發明者或公司

法

第一步：分發明為可搜之元

破發明為其技要素。

1. 讀發明之述（或既專之申求項，若針既專而搜）
2. 取要素——每獨之技特：
   • 含何件？
   • 程依何步？
   • 達何技效？
   • 解何患而何以解之？
3. 識新合——別於既知之為何：
   • 新元加既知之元乎？
   • 既知之元之新合乎？
   • 既知之元用於新域乎？
4. 為各元生搜辭：
   • 技辭、同義、縮寫
   • 廣與狹之辭（層）
   • 同念之異述
5. 書搜圖：元、辭、關

Search Map Example:
+------------------+-----------------------------------+-----------+
| Element          | Search Terms                      | Priority  |
+------------------+-----------------------------------+-----------+
| Attention layer  | attention mechanism, self-         | High      |
|                  | attention, multi-head attention    |           |
| Sparse routing   | mixture of experts, sparse MoE,   | High      |
|                  | top-k routing, expert selection    |           |
| Training method  | knowledge distillation, teacher-   | Medium    |
|                  | student, progressive training      |           |
+------------------+-----------------------------------+-----------+

得：完備之分，每元皆有搜辭。新合已識——此乃搜必得（以無效）或必確其無（以支新）者。

敗則：發明過抽不可分，求更具體之述。求項不明，專於各求項元最廣之合理解。

第二步：搜專利之載

於專利庫系統而搜。

1. 構合元辭之查：

   • 先各元獨搜（廣）
   • 後合元以得近之技術（狹）
   • 用分類碼濾以技域

2. 搜諸庫：

   • Google Patents：宜全文搜，免費，大集
   • USPTO PatFT/AppFT：美專與申，官源
   • Espacenet：歐專，分類搜佳
   • WIPO Patentscope：PCT 申，全球之覆

3. 施日之濾：

   • 先有技術必早於關鍵之日（申日或優先日）
   • 含申前一年之載（寬限期依司法異）

4. 各相關之果皆錄：

   • 文號、題、申日、公開日
   • 揭何元（映於搜圖）
   • 是否揭新合

5. 依相關分果：

   • X 引：獨揭發明（先有預料）
   • Y 引：揭要元，可與他引合（顯而易見）
   • A 引：背景之技，定一般技態

得：分類之專引列，映於發明之元。X 引（若得）為新之絕殺。Y 引為顯而易見之積木。

敗則：未得相關專引，非謂發明為新——非專之載（第三步）或藏關鍵之引。一庫之闕非處處之闕。

第三步：搜非專之載

搜學術之文、產、開源、與他非專之揭。

1. 學術之載：

   • Google Scholar、arXiv、IEEE Xplore、ACM Digital Library
   • 用第一步之同辭搜
   • 會議文與工作坊集常早於專申

2. 產與商揭：

   • 產文檔、用戶手冊、營銷之物
   • Internet Archive（Wayback Machine）為日驗之網內容
   • 業之刊與新聞

3. 開源與碼：

   • GitHub、GitLab——搜技特之施
   • README、文檔、提交史為日證
   • 軟之發附版日

4. 標準與規格：

   • IEEE、IETF（RFCs）、W3C、ISO 標準
   • 標準必揭之專；搜標準體之 IP 庫

5. 防衛之揭：

   • IBM Technical Disclosure Bulletin
   • Research Disclosure 刊
   • IP.com Prior Art Database

6. 各果皆驗公開之日早於關鍵之日：

   • 網頁：用 Wayback Machine 為日證
   • 軟：用發版之日或提交之戳
   • 文：用公開之日，非提交之日

得：非專引補專搜。學文與開源碼常為最強之先有技術，其述技詳於專。

敗則：非專之載稀，技或多發於企業 R&D（專重）。重專之載而專於合而顯之論。

第四步：析而映諸果

量所得先有技術與發明之關。

1. 立求項表映先有技術於發明之元：

Claim Element vs. Prior Art Matrix:
+------------------+--------+--------+--------+--------+
| Element          | Ref #1 | Ref #2 | Ref #3 | Ref #4 |
+------------------+--------+--------+--------+--------+
| Element A        |   X    |   X    |        |   X    |
| Element B        |        |   X    |   X    |        |
| Element C        |   X    |        |   X    |        |
| Novel combo A+B+C|        |        |        |        |
+------------------+--------+--------+--------+--------+
X = element disclosed in this reference

2. 量新：單引揭諸元乎？

   • 若是 → 發明已被預料（非新）
   • 若否 → 發明或新（進至顯而易見）

3. 量顯而易見：少數引（2-3）合可覆諸元乎？

   • 有合之動機乎？（熟者見合之由乎？）
   • 引示反合乎？（示其不行乎？）

4. FTO 搜：先有技術窄阻專之求項乎？

   • 與阻專之求項疊之先有技術限其可執之範

5. 明書析，引特之段

得：明之求項表，示諸元為何引所覆，附新與顯而易見之量。各映引特之段或圖。

敗則：求項表示闕（諸元無一引含），此闕乃潛新處。後續搜專於此具體之闕。

第五步：書與交

裝搜果為其用。

1. 書 Prior Art Search Report：

   • 搜之旨與範
   • 搜之法（庫、查、日範）
   • 果摘（引數、分類分布）
   • 要引附詳析（求項表）
   • 量：新、顯而易見、FTO 之意
   • 限與後續搜之議

2. 整引：

   • 依相關排（X 在前，Y 次之，A 末）
   • 各引附全書誌與訪鏈
   • 要段標或取出

3. 依搜旨議：

   • 可專：申/不申，依先有技術之闕議求項之範
   • 無效：諸引最強之合，議法之論
   • FTO：險之等、設計繞過之機、許可之考
   • 防衛：依得空白之地，是否發為防揭

得：完備整之搜報，直支所欲之決。引可訪，析可循。

敗則：搜未決（無強 X 或 Y 引，唯有相關背景），明書其結：「無預料之技術；最近之技術述元 A 與 B 而非 C。議申以重 C 為求項。」未決亦為合而有用之果。

驗

• 發明已分為別之可搜元
• 新合已明識
• 專庫已搜（至少二庫）
• 非專之載已搜（學+產+開源）
• 諸引皆早於關鍵之日（日已驗）
• 求項表映元於引附段引
• 新與顯而易見已量附由
• 果分類依相關（X、Y、A 引）
• 報含法、限、與議
• 搜可重（查與庫已書）

陷

• 關鍵詞之窄視：唯精合搜失同義與異述。用第一步之辭層
• 唯專之搜：非專之載（文、產、碼）常明於專。勿略第三步
• 日之忽：先有技術必早於關鍵之日。申日後一日之佳引，無用
• 忽外語之技術：要發明或先現於中、日、韓、德之專載。機譯使可搜
• 確認之偏：搜以確新而非搜以得無效之技術。最佳之搜竭力得最近之技術
• 過早止：首數果罕為最佳。依早果所示之域辭，反復搜之

參

• assess-ip-landscape — 寬之景繪，置具體先有技術搜於其中
• screen-trademark — 商標衝之篩（異庫、異法框）
• file-trademark — 篩成後之申程序
• review-research — 文獻審法多疊於先有技術搜
• security-audit-codebase — 系搜法之並行（全、書、可重）