解譜

系統解 GC、HPLC 譜：驗系統適性、識峰、積分、算色譜參、評峰質以得可靠定量。

用

• 報析前審色譜數據
• 驗樣品序前系統適性測過
• 以保留時或譜識未知峰、證已知分析物
• 調異常峰、基線偏、積分偽影
• 訓析者解色譜

入

必

• 譜：數字或印譜，時軸及檢測響應軸
• 參標：同法下已知分析物之保留時與響應
• 法參：柱、流動相/載氣、溫/梯度、檢測器設

可

• 譜數據：UV-Vis（DAD）、質譜（MS）或他譜以證峰
• 前譜：同法歷數據以比趨勢
• 系統適性準：法或規之受納限
• 樣備細：稀釋係、提取收率、內標濃

行

一：驗系統適性

樣前確系統於規內行。

1. 尋系統適性注（序始 5-6 次參標複注）
2. 算上表各參
3. 計值 vs 法受納準
4. 若任參敗→系統不適→勿進樣品解，待解
5. 於批記錄記諸結

得：諸適性參於規內，證系統適用。

敗：tR RSD 敗→查溫不穩、流動相備誤、柱退。T 敗→察入口襯管（GC）或柱篩（HPLC）。Rs 敗→以專測混查柱性能，必要換。

二：識峰

1. 各峰保留時（tR）vs 參標譜
   • 可受匹配：參 tR +/- 2%（或短運 +/- 0.1 分）
2. 模糊識→用共注（加標）：加參標於樣再注。目峰增而不展、不肩
3. DAD HPLC：各峰 UV-Vis 譜 vs 譜庫
   • 譜匹配指 >= 990（千）為正識
   • 察峰橫向譜純（前、頂、尾譜當疊）
4. MS 系統：以分子離子（m/z）與關鍵碎片對參譜證
5. 不可識峰→標「未知」，記 tR 與相對響應

得：諸目分析物以 tR 識，有譜處加譜證。未知峰標 tR 與面。

敗：保留時一致偏→系統變（柱老、溫漂、流動相誤）。再注參標以立當前 tR 後重審。

三：積分

1. 擇模式：
   • 自動積分起始
   • 手動僅於自動顯然誤置基線或峰界時
2. 設參：
   • 基線檢靈敏（斜率/閾）
   • 拒噪最小面或高
   • 峰寬配最窄預期峰
3. 驗基線置：
   • 基線當連峰首尾於真基線
   • 重疊峰：按法用谷至谷或垂直降
   • 梯度法：基線或升→用切線擺或指數擺
4. 查誤：
   • 分裂峰積為二當為一
   • 肩峰併入主峰當分
   • 噪刺積為峰
   • 基線穿峰（負峰剪切）
5. 記終積分參與手動調之理由於審計跡

得：諸目峰以正基線積，無偽影，諸手動調有正當記錄。

敗：自動持續誤一峰形→造定時事件積分法，於該 tR 窗用自定參。切勿為得結調積分——調須科學正當。

四：算色譜參

為諸報峰算：

1. 分離度 Rs 鄰峰間：
   • Rs = 2(tR2 - tR1) / (w1 + w2)
   • Rs >= 1.5 為基線分；Rs >= 2.0 為常規餘
2. 拖尾因 T 於 5% 峰高：
   • T = W0.05 / (2f)
   • T = 1.0 為完全對稱；T > 2.0 示顯拖尾
3. 理論塔板 N：
   • N = 16(tR / w)^2 用基線寬，或 N = 5.54(tR / w0.5)^2 用半高寬
   • N 高→柱效佳
4. 容量因 k'：
   • k' = (tR - t0) / t0，t0 為死時（柱死體積/流速）
   • 理想範：2-10
5. 選擇性 alpha（關鍵對）：
   • alpha = k'2 / k'1
   • alpha > 1.05 一般足分
6. 列諸分析物結，比法規

得：諸色譜參算、列、比受納準。關鍵對分離度與塔板數記。

敗：算得塔板顯低於柱規→柱或退→以新標測並比歷史。序內參漂→查儀穩。

五：評峰質

1. 對稱：峰當高斯或近。顯前沿（T < 0.8）→柱過載；拖尾（T > 1.5）→次作用或死體積
2. 基線分：定量須關鍵對基線分。若谷不歸基線→記谷百分並評對準確之影響
3. 峰寬一致：顯寬於預期（比標）→柱上降、柱外帶展寬或注問題
4. 譜純（DAD/MS）：純指示峰橫向譜異→共洗雜。調法以增分
5. 負峰或基線擾：UV 負峰→樣溶劑於檢波長吸收過流動相——溶劑前為常，他處為異
6. 鬼峰：空白注中之峰→殘留、流動相污、柱流失。報前識源
7. 總結總質，注報結之限

得：諸目之峰質評；異常（拖尾、共洗、鬼峰）記其對數據質之潛影響。

敗：若顯質問題（譜不純證共洗、分析物 tR 有鬼峰）→數據或不可報。標結，查根因，施校正後重運。

驗

• 系統適性參算並於規內
• 諸目分析物以 tR 識（+/- 譜證）
• 未知峰標 tR 與面
• 積分以正基線置行；手動調有記
• 諸峰算 Rs、T、N、k'
• 峰質已評——無影響定量之未解共洗
• 以空白注評鬼峰與殘留
• 結列並比法受納準

忌

• 受自動積分不審：數據系統或誤置基線，尤肩、大峰鄰小峰、梯度基線。各譜須目審
• 混 tR 偏為新峰：一致偏（諸峰同移）→系統變非新化合。再注標以重校再識
• 報噪下峰：S/N < 3（檢）或 < 10（定量）→不識不定量。跡量峰顯算 S/N
• 忽溶劑前：空體積峰非分析物。確 t0 識並排於報
• 手動積為得目結：調積以使結過規→數據偽造。諸積分調須科學正當並入審計跡
• 忽譜純查：淨看峰或藏共洗雜。DAD 或 MS 數據在時必查純

參

• develop-gc-method — 生譜之 GC 法之法開發
• develop-hplc-method — 生譜之 HPLC 法之法開發
• troubleshoot-separation — 診譜解時所識之問題
• validate-analytical-method — 生色譜數據之法之正式驗證
• interpret-mass-spectrum — GC-MS、LC-MS 峰證之 MS 詳解