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develop-gc-method

pjt222
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개발general

정보

이 Claude Skill은 분석 목표를 정의하고 분리 매개변수를 최적화하여 개발자들이 가스 크로마토그래피 방법을 처음부터 생성하도록 돕습니다. 특정 매트릭스 내 대상 분석물에 대한 컬럼 선택, 온도 프로그래밍, 검출기 구성 과정을 사용자에게 안내합니다. 이 스킬은 새로운 방법 개발, 공개된 프로토콜 적용, 또는 기존의 구식 분리 방식을 대체하는 데 특히 유용합니다.

빠른 설치

Claude Code

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기본
npx skills add pjt222/agent-almanac -a claude-code
플러그인 명령대체
/plugin add https://github.com/pjt222/agent-almanac
Git 클론대체
git clone https://github.com/pjt222/agent-almanac.git ~/.claude/skills/develop-gc-method

Claude Code에서 이 명령을 복사하여 붙여넣어 스킬을 설치하세요

문서

立氣相層析之法

從始建氣相層析法:定析標、擇柱化、優溫程、擇載氣與檢、驗初效於定基質之分析物。

  • 新立易揮或半揮化合物之 GC 析
  • 改published 法至異器或基質
  • 替舊法已不足之效
  • 為已知沸點與極性之物立法
  • 由填充柱法轉毛細管法

  • 目分析物:化合物名單(CAS 號、分子量、沸點)
  • 樣基質:樣類述(空氣、水萃、溶劑液、生液)
  • 檢測限:各分析物所需 LOD/LOQ

  • 參考法:published 法(EPA、ASTM、藥典)為起點
  • 可用柱:已有之柱錄
  • 儀配:GC 型、可用檢、自動進樣
  • 通量求:單樣可接之最長運時
  • 規約:GLP、GMP、EPA 或他合規

一:定析標

  1. 列諸目分析物及其物性(沸點、極性、分子量)
  2. 識樣基質及預期干擾或共萃物
  3. 定檢限、定量域、及關鍵對之分辨求
  4. 斷法宜符規範(EPA 8260、USP 等)
  5. 記通量需:最長運時、進樣量、樣備之限

得:書定規格,列分析物、基質、檢限、分辨求、諸規或通量之限。

敗:揮性數缺→由結構類推沸點或用中極柱探行以立洗脫序。

二:擇柱

依分析物極性及分離難度擇柱尺與固定相。

Column TypeStationary PhasePolarityTypical Use Cases
DB-1 / HP-1100% dimethylpolysiloxaneNon-polarHydrocarbons, solvents, general screening
DB-5 / HP-55% phenyl-methylpolysiloxaneLow polaritySemi-volatiles, EPA 8270, drugs of abuse
DB-170114% cyanopropylphenylMid polarityPesticides, herbicides
DB-WAX / HP-INNOWaxPolyethylene glycolPolarAlcohols, fatty acids, flavors, essential oils
DB-6246% cyanopropylphenylMid polarityVolatile organics, EPA 624/8260
DB-FFAPModified PEG (nitroterephthalic acid)Highly polarOrganic acids, free fatty acids
DB-3535% phenyl-methylpolysiloxaneMid-low polarityPolychlorinated biphenyls, confirmatory column
  1. 分析物極性配固定相:相似者溶相似者
  2. 擇柱長(15-60 m):長則塔數多但運時長
  3. 擇內徑(0.25-0.53 mm):窄則效佳,寬則容大
  4. 擇膜厚(0.25-5.0 um):厚則留揮物更久
  5. 複雜基質→考護柱或保留間隙

得:柱規(相、長、ID、膜厚),由分析物性及分離求而證。

敗:無單柱能分諸關鍵對→計正交選擇性之確認柱(如 DB-1 主,DB-WAX 確)。

三:優溫程

  1. 初爐溫置於最揮分析物沸點之下(留 1-2 分以聚焦溶劑)
  2. 施線升:
    • 簡合:10-20 C/分
    • 雜合:3-8 C/分以勝分辨
    • 超快篩:短薄膜柱 25-40 C/分
  3. 末溫設於最不揮分析物沸點之上 10-20 C
  4. 末留(2-5 分)以保全洗脫及柱烘
  5. 共洗關鍵對→於洗脫前插等溫留,或減該區升率
  6. 驗總運時符通量

得:溫程(初、留、升率、末、末留)分諸分析物於可接運時內。

敗:關鍵對升率優後仍不分→返步二重擇柱,或用多升率(問題區慢)。

四:擇載氣

PropertyHelium (He)Hydrogen (H2)Nitrogen (N2)
Optimal linear velocity20-40 cm/s30-60 cm/s10-20 cm/s
Efficiency at high flowGoodBest (flat van Deemter)Poor
Speed advantageBaseline1.5-2x faster than HeSlowest
SafetyInertFlammable (needs leak detection)Inert
Cost / availabilityExpensive, supply concernsLow cost, generator optionVery low cost
Detector compatibilityAll detectorsNot with ECD; caution with some MSAll detectors
  1. 通用及定指 He 之規範法→默認氦
  2. 求快或氦供緊→考氫;裝氫專漏偵及安聯
  3. 僅簡分離或價為主→用氮
  4. 設載流至所擇氣及柱 ID 之最佳線速
  5. 以無留化合物(如 FID 之甲烷)測實線速

得:載氣已擇,流設最佳線速,由無留峰驗。

敗:設流下效低預期→用 5-7 流率作 van Deemter 曲線(塔高 vs 線速)以得真最佳。

五:擇檢

DetectorSelectivitySensitivity (approx.)Linear RangeBest For
FIDC-H bonds (universal organic)Low pg C/s10^7Hydrocarbons, general organics, quantitation
TCDUniversal (all compounds)Low ng10^5Permanent gases, bulk analysis
ECDElectronegative groups (halogens, nitro)Low fg (Cl compounds)10^4Pesticides, PCBs, halogenated solvents
NPD/FPDN, P (NPD); S, P (FPD)Low pg10^4-10^5Organophosphorus pesticides, sulfur compounds
MS (EI)Structural identificationLow pg (scan), fg (SIM)10^5-10^6Unknowns, confirmation, trace analysis
MS/MSHighest selectivityfg range10^5Complex matrices, ultra-trace, forensic
  1. 檢配分析物化學及所需靈敏
  2. 簡基質定量→FID 為默認(堅、線、少修)
  3. 複基質痕量析→SIM 之 MS 或 MRM 之 MS/MS
  4. 鹵化痕量→ECD 最靈敏
  5. 檢溫設於最高爐溫之上 20-50 C 以防凝
  6. 檢氣流按廠商建議優

得:檢已擇並設合適溫與氣流以符目分析物。

敗:檢靈敏不足於所求限→考濃樣(大進量、溶發)或換更靈敏/選擇之檢。

六:驗初效

  1. 備含諸目分析物於中濃之系統適用標
  2. 連進 6 次
  3. 評:
    • 留時 RSD:宜 < 1.0%
    • 峰面 RSD:宜 < 2.0%(痕量 < 5.0%)
    • 關鍵對分辨:Rs >= 1.5(基線)或規範法 >= 2.0
    • 峰拖因:0.8-1.5(USP T <= 2.0)
    • 塔數 (N):驗符柱廠規
  4. 進空白以確無殘留或鬼峰
  5. 進基質空白以識潛在干擾於目留時
  6. 諸參記於法摘

得:諸分析物符系統適用於重複進樣,目留窗無殘留或基質干擾。

敗:現拖尾→查活位(重調柱、剪進口 0.5 m、換內管)。RSD 超限→查自動進樣精及進法。分辨不足→返步三優溫程。

  • 諸目分析物分離,關鍵對 Rs >= 1.5
  • 6 次重複留時 RSD < 1.0%
  • 6 次重複峰面 RSD < 2.0%
  • 諸分析物拖因在 0.8-1.5
  • 空白進無殘留逾工作濃 0.1%
  • 基質空白目留窗無干擾
  • 總運時符通量
  • 法參盡記(柱、溫、流、檢設)

  • 略柱流失溫限:運行於固定相最高等溫之上→基線升、鬼峰、柱速降→常查柱規
  • 進樣過大:溶過多致早洗脫物前拖及分辨差→配進量於柱容(0.25 mm ID 柱分流常 0.5-2 uL)
  • 錯內管配進模:不分流須單錐或雙錐去活內管;分流用含玻棉內管。錯配致重現差
  • 略墊片及內管維:墊片心塊及內管污為鬼峰拖尾之首因→每 50-100 進換墊,內管按記排程換
  • 略 van Deemter 優:用廠商默認流率而非實測最佳→廢效,尤換載氣時
  • 柱調不足:新柱宜調(載氣下升至最高溫,無檢)以去製造殘前可用

  • develop-hplc-method
  • interpret-chromatogram
  • troubleshoot-separation
  • validate-analytical-method

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