design-logic-circuit
À propos
Cette compétence conçoit des circuits logiques combinatoires à partir de spécifications fonctionnelles ou de tables de vérité, en les implémentant au niveau des portes logiques. Elle gère les portes standard, les conversions en portes universelles NAND/NOR, et construit des blocs tels que des additionneurs et des multiplexeurs. Utilisez-la lorsque vous avez besoin de traduire une fonction booléenne en un réseau de portes vérifiable et réalisable matériellement.
Installation rapide
Claude Code
Recommandénpx skills add pjt222/agent-almanac -a claude-code/plugin add https://github.com/pjt222/agent-almanacgit clone https://github.com/pjt222/agent-almanac.git ~/.claude/skills/design-logic-circuitCopiez et collez cette commande dans Claude Code pour installer cette compétence
Documentation
設邏輯電路
由功能規範轉組合邏輯電路至門級實:定入出、導最簡布爾式、映至門級圖、可選轉萬能門基(NAND 或 NOR)、以窮舉模擬對原真值表驗正確。
用
- 布爾函作實或模之門網
- 設標組合塊(加器、多工、解碼、比較)
- 任意門網轉 NAND 或 NOR 以符製造限
- 教或評數字邏輯由規至圖
- 備 build-sequential-circuit 或 simulate-cpu-architecture 所需之組合數路組件
入
- 必:功能規—一:真值表、布爾式、入出行之口述、或標塊名(如「4 位漣波加器」)
- 必:目門庫—無限(AND/OR/NOT)、僅 NAND、僅 NOR、或某標單元庫
- 可:優化標—減門數、減傳延(關鍵路)、或減扇出
- 可:最大扇入限(如僅 2 入門)
- 可:永不發生之 don't-care 入
行
一:定電路功
合成前盡定電路介與行:
- 入訊:列諸入訊之名、位寬、有效域。多位入宜定位序(MSB 先或 LSB 先)
- 出訊:列諸出訊之名、位寬
- 真值表:書全真值表映每入組至出。入多者以代數或小項/大項集表
- Don't-care 條件:識實不可發之入組(如 BCD 入 1010-1111)標為 don't-care
- 時求:記諸傳延限—組合電路無時鐘—此指關鍵路最差門延
## Circuit Specification
- **Name**: [descriptive name]
- **Inputs**: [list with bit widths]
- **Outputs**: [list with bit widths]
- **Function**: [verbal description]
- **Truth table or minterm list**: [table or Sigma notation]
- **Don't-care set**: [d(...) or "none"]
得:全、無糊之規,諸合法入組映至唯一出值。
敗:規糊(缺例、同入異出)→求明。勿假 don't-care,除明言。
二:導最簡布爾式
用 evaluate-boolean-expression 以求諸出之最簡式:
- 單出函:各出位行 evaluate-boolean-expression 得最簡 SOP(或 POS,擇少門者)
- 多出優:諸出共子式→識共積項以提。減總門數,換略雜之路由
- XOR 辨:掃真值表之 XOR/XNOR 模(K 圖之棋盤)→XOR 門於 NAND/NOR 實昂但標庫中高效
- 記諸式:書各出之最簡式,記字母數與積/和項數
## Minimal Expressions
| Output | Minimal SOP | Literals | Terms |
|--------|-------------|----------|-------|
| F1 | [expression] | [count] | [count] |
| F2 | [expression] | [count] | [count] |
- **Shared sub-expressions**: [list, if any]
得:各出最簡布爾式,多出電路共子式已識。
敗:式似非最簡(字母多於預期)→由 evaluate-boolean-expression 重行 K 圖或 Quine-McCluskey。變量 > 6 用 Espresso 或類啟發簡化。
三:映至門級圖
轉布爾式為門網:
- 直映(SOP):各積項為多入 AND;積之和為 AND 饋之 OR。各補變需 NOT(或 NAND/NOR 吸收反)
- 門配:各門記:
- 門類(AND、OR、NOT、XOR、NAND、NOR)
- 入訊(以名或他門出)
- 出訊名
- 扇入(入數)
- 扇入分:門超最大扇入→分為小門之樹。如 2 入限下 4 入 AND→二 2 入 AND 饋第三 2 入 AND
- 圖記:以文字或結構表述網表
## Gate-Level Netlist
| Gate ID | Type | Inputs | Output | Fan-in |
|---------|------|-------------|--------|--------|
| G1 | NOT | A | A' | 1 |
| G2 | AND | A', B | w1 | 2 |
| G3 | AND | A, C | w2 | 2 |
| G4 | OR | w1, w2 | F | 2 |
- **Total gates**: [count]
- **Critical path depth**: [number of gate levels from input to output]
得:全門級網表,各出經門鏈回溯至原入,無浮(未連)之入或出。
敗:網表有懸線或反饋迴(組合電路不合)→重查映。各訊宜有唯一驅且各門入宜連原入或他門出。
四:轉萬能門基(可選)
轉電路為僅 NAND 或僅 NOR:
- 僅 NAND 轉:
- 各 AND→NAND 接 NOT(NAND 同入)
- 各 OR 用 De Morgan:
A + B = ((A')*(B'))' = NAND(A', B')→ NOT 諸入後 NAND - 各 NOT→NAND 二入相連:
A' = NAND(A, A) - 氣泡推:簡以消鄰反。二 NOT 串消。NAND 饋 NOT = AND
- 僅 NOR 轉:
- 各 OR→NOR 接 NOT
- 各 AND 用 De Morgan:
A * B = ((A')+(B'))' = NOR(A', B') - 各 NOT→
NOR(A, A) - 施氣泡推消反
- 門數比:記轉前後門數。僅 NAND/僅 NOR 常多門但簡製造(單門類)
## Universal Gate Conversion
- **Target basis**: [NAND-only / NOR-only]
- **Gates before conversion**: [count]
- **Gates after conversion**: [count]
- **Gates after bubble-push optimization**: [count]
- **Conversion netlist**: [updated table]
得:功能等價電路僅用目門類,冗反已消於氣泡推。
敗:轉後反多於預期→重查氣泡推。常誤乃忘 NAND 與 NOR 於補下自對偶—由出至入連貫施 De Morgan 以避。
五:窮舉模擬驗
確電路於諸入組出正確:
- 模擬法:入至 16(65,536 組)窮舉;更大用針對性測向量(邊、界、隨機)
- 傳值:各入組,依拓撲序門門傳(無門於其入未備前算)
- 對規比:各出對步一真值表或預期函比。Don't-care 出可 0 或 1
- 記果:誌諸不符之入組與預期 vs 實際
- 時析(可選):數任入至任出最長路之門級→乘單門延估最差傳延
## Simulation Results
- **Total test vectors**: [count]
- **Vectors passed**: [count]
- **Vectors failed**: [count, with details if any]
- **Critical path**: [gate sequence, e.g., G1 -> G3 -> G7 -> G9]
- **Critical path depth**: [N gate levels]
- **Estimated worst-case delay**: [N * gate_delay]
得:諸向量皆過。電路功正且關鍵路深已書。
敗:某向量敗→對該入追訊路門門以得首門出錯。常因:線接錯門入、缺反、或 NAND/NOR 轉誤。
驗
- 諸入出已命名且位寬已定
- 真值表或小項表涵諸合法入組
- 布爾式最簡(由 K 圖或 Quine-McCluskey 驗)
- 網表諸門之諸入皆連且唯一出
- 電路無組合反饋迴
- 符扇入限(諸門在最大扇入內)
- NAND/NOR 轉(若行)保功能等價
- 氣泡推已施以消冗反
- 窮舉模擬過諸非 don't-care 入
- 關鍵路深已書
忌
- 組合反饋迴:誤連門出回其入鏈→造順序素(鎖存),非組合→若需態,改用 build-sequential-circuit
- NAND/NOR 轉忘反:最常轉誤乃於 De Morgan 丟 NOT→常由出至入系統施氣泡推,勿隨手
- 超扇入而不分:5 入 AND 不在 2 入庫中→分為平衡樹減傳延,勿線鏈
- 略 don't-cares:簡化未用 don't-cares→電路大於必要→凡有 don't-cares 皆含
- 混門延與線延:入門設計門延主。實 VLSI 中線延(互連電容)可勝門延。估時宜記此限
- 多出隱患:諸出共門→變一出之邏可誤影共子式→改後驗諸出,勿僅被改者
參
evaluate-boolean-expressionbuild-sequential-circuitsimulate-cpu-architecture
Dépôt GitHub
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