察 IP 地貌

繪技域或品區之 IP 地貌——識專利群、白地、要角、操自由險。生告研發向、許決、專利申之策評。

用時

• 新技域研發前（何已宣？）乃用
• 入有強專利庫之主者之市乃用
• 備投資盡職察（IP 資察）乃用
• 告專利申策（何地申、何宣）乃用
• 察新品或功之 FTO 險乃用
• 察對手 IP 動以策位乃用

入

• 必要：待察之技域或品區
• 必要：地理範（美、歐、全球）
• 可選：特欲焦之對手
• 可選：自有專利庫（隙析與 FTO）
• 可選：時限（末五年、末十年、全時）
• 可選：分類碼（IPC、CPC）若知

法

第一步：定搜範

立地貌析之界。

1. 精定技域：
   • 核技區（如「transformer 式語言模」非「AI」）
   • 欲納之鄰（如「注機、分詞、推優」）
   • 欲排之（如注 NLP 則排「電腦視覺 transformer」）
2. 識相關分類碼：
   • IPC（國際專利分類）——廣，全球用
   • CPC（合作專利分類）——細，美/歐標
   • 察 WIPO 之 IPC 刊或 USPTO 之 CPC 覽
3. 定地理範：
   • 美（USPTO）、歐（EPO）、WIPO（PCT）、特國局
   • 諸析多始於美 + 歐 + PCT 為廣覆
4. 設時窗：
   • 近動：末三五年（當競地貌）
   • 全史：十至廿年（熟技區）
   • 察過期專利重開設計空
5. 書範為地貌章

得： 清限之範，具足生可行果而廣足捕相關競地貌。分類碼識以系搜。

敗則： 若技域過廣（千果），加技具或注特應區狹之。若過狹（少果），廣至鄰技。適範典生百至千專利族。

第二步：采專利數

集所定範內之專利數。

1. 以地貌章查專利庫：
   • 免費：Google Patents、USPTO PatFT/AppFT、Espacenet、WIPO Patentscope
   • 商業：Orbit、PatSnap、Derwent、Lens.org（半免）
   • 合鍵字搜 + 分類碼為佳覆
2. 系建搜查：

Query Construction:
+-------------------+------------------------------------------+
| Component         | Example                                  |
+-------------------+------------------------------------------+
| Core keywords     | "language model" OR "LLM" OR "GPT"       |
| Technical terms   | "attention mechanism" OR "transformer"    |
| Classification    | CPC: G06F40/*, G06N3/08                  |
| Date range        | filed:2019-2024                          |
| Assignee filter   | (optional) specific companies            |
+-------------------+------------------------------------------+

3. 下果於結構式（CSV、JSON）含：
   • 專利/申請號、題、摘、申日
   • 持有者/申請者、發明者
   • 分類碼、引用數
   • 法狀（授、待、過、棄）
4. 以專利族去重（聚同發明之諸國申）
5. 記總專利族數與源庫

得： 結構化之專利族數於範內，已去重已時戳。此數為後續析之基。

敗則： 若庫訪限，Google Patents + Lens.org（免）供佳覆。若查返過多（>5000），加技具。若過少（<50），廣鍵或加分類。

第三步：析地貌

映專利群、要角、趨。

1. 群析：按子技聚專利：
   • 以分類碼或鍵聚識五至十子區
   • 計每群專利族數
   • 識何群長（近申激）、何熟（平或降）
2. 要角析：按下識十大持有者：
   • 總族數（庫廣）
   • 近申率（末三年——當動）
   • 均引計（專利質代）
   • 地理申廣（唯美對全球）
3. 趨析：繪時窗申趨：
   • 年總申量
   • 按群按年申量
   • 新入（此域首申者）
4. 引網：識最引專利（基 IP）：
   • 高前引 = 後申重依
   • 此或為阻專利或要前藝
5. 生地貌圖：群、角、趨、要專利

得： 誰有何、動於何處、地貌如何演之清圖。要阻專利識。白地（少申之區）可見。

敗則： 若數少不可義聚，合群為廣組。若一持有者主（>50%），析其庫為獨子地貌。

第四步：識白地與險

自地貌取策見。

1. 白地析（機）：
   • 範內少無專利之技區
   • 設計空重開之過期族
   • 唯一者申之活區（先而無競）
   • 長群之鄰白地（下疆）
2. FTO 險察（威）——自 heal 分流矩改：
   • 關鍵：授專利直覆擬品/功
   • 高：待申或授附相關宣
   • 中：鄰區授專利可廣釋
   • 低：過期、窄宣、或地理無關之申
3. 競位：
   • 自庫（若有）於對手如何？
   • 何對手於目區有阻位？
   • 何對手或欲交叉許？
4. 生策評：白地、FTO 險、位、薦

得： 可行策薦：何處申、何避、誰察、何險需詳 FTO 析。

敗則： 若識 FTO 險，此察為初——不代專利律師之正 FTO 見。標關鍵險為法審。若白地似過佳（有值而無申），驗搜範未誤排相關申。

第五步：書而薦

裝地貌評予決者。

1. 書地貌報含：
   • 要（一頁：要發現、頂險、主薦）
   • 範與法（搜辭、庫、日範）
   • 地貌概（群、趨、要角附視）
   • 白地析（機依策值排）
   • 險評（FTO 憂依重排）
   • 薦（申策、許目、察警）
2. 含支數：
   • 專利族列（結構、可排）
   • 群圖（視）
   • 申趨圖
   • 要專利要（最相關十至廿）
3. 設續察：
   • 定關鍵區新申之警查
   • 設察率（活區季、穩區年）

得： 全地貌報使策 IP 決可能。報證本、清限、可行。

敗則： 若報過大，先生要而詳段待求。要當獨立為決文。

驗

• 地貌章定範、分類、地、時窗
• 專利數自多庫采且去重
• 群識附申計與趨向
• 十大要角附庫指畫
• 白地識且按策值排
• FTO 險察且按重分
• 要阻專利識附引析
• 薦具而可行
• 限承（察對正 FTO 見）
• 續察警定

陷

• 範過廣：「AI 專利」非地貌——乃海。技與應宜具
• 依單庫：無單庫有全覆。至少用二源
• 忽專利族：計個申代族虛其數。一發明於十國申為一族，非十
• 混申於授：待申非可執權。別授專利與刊申
• 白地誤釋：空區或「無人試」或「諸皆試敗」。察而後假機
• 地貌為法見：此技生策情報，非法諮。此標 FTO 險需專利律師正析

參

• search-prior-art — 為具發明或專利有效挑之詳前藝搜
• screen-trademark — IP 地貌商標面之商標衝察與辨性析
• file-trademark — EUIPO、USPTO、馬德里條約之商標申程
• security-audit-codebase — 險評法映 IP 險察
• review-research — 文獻審技施於前藝析