立氣相層析之法

從始建氣相層析法：定析標、擇柱化、優溫程、擇載氣與檢、驗初效於定基質之分析物。

用

• 新立易揮或半揮化合物之 GC 析
• 改published 法至異器或基質
• 替舊法已不足之效
• 為已知沸點與極性之物立法
• 由填充柱法轉毛細管法

入

必

• 目分析物：化合物名單（CAS 號、分子量、沸點）
• 樣基質：樣類述（空氣、水萃、溶劑液、生液）
• 檢測限：各分析物所需 LOD/LOQ

可

• 參考法：published 法（EPA、ASTM、藥典）為起點
• 可用柱：已有之柱錄
• 儀配：GC 型、可用檢、自動進樣
• 通量求：單樣可接之最長運時
• 規約：GLP、GMP、EPA 或他合規

行

一：定析標

1. 列諸目分析物及其物性（沸點、極性、分子量）
2. 識樣基質及預期干擾或共萃物
3. 定檢限、定量域、及關鍵對之分辨求
4. 斷法宜符規範（EPA 8260、USP 等）
5. 記通量需：最長運時、進樣量、樣備之限

得：書定規格，列分析物、基質、檢限、分辨求、諸規或通量之限。

敗：揮性數缺→由結構類推沸點或用中極柱探行以立洗脫序。

二：擇柱

依分析物極性及分離難度擇柱尺與固定相。

1. 分析物極性配固定相：相似者溶相似者
2. 擇柱長（15-60 m）：長則塔數多但運時長
3. 擇內徑（0.25-0.53 mm）：窄則效佳，寬則容大
4. 擇膜厚（0.25-5.0 um）：厚則留揮物更久
5. 複雜基質→考護柱或保留間隙

得：柱規（相、長、ID、膜厚），由分析物性及分離求而證。

敗：無單柱能分諸關鍵對→計正交選擇性之確認柱（如 DB-1 主，DB-WAX 確）。

三：優溫程

1. 初爐溫置於最揮分析物沸點之下（留 1-2 分以聚焦溶劑）
2. 施線升：
   • 簡合：10-20 C/分
   • 雜合：3-8 C/分以勝分辨
   • 超快篩：短薄膜柱 25-40 C/分
3. 末溫設於最不揮分析物沸點之上 10-20 C
4. 末留（2-5 分）以保全洗脫及柱烘
5. 共洗關鍵對→於洗脫前插等溫留，或減該區升率
6. 驗總運時符通量

得：溫程（初、留、升率、末、末留）分諸分析物於可接運時內。

敗：關鍵對升率優後仍不分→返步二重擇柱，或用多升率（問題區慢）。

四：擇載氣

1. 通用及定指 He 之規範法→默認氦
2. 求快或氦供緊→考氫；裝氫專漏偵及安聯
3. 僅簡分離或價為主→用氮
4. 設載流至所擇氣及柱 ID 之最佳線速
5. 以無留化合物（如 FID 之甲烷）測實線速

得：載氣已擇，流設最佳線速，由無留峰驗。

敗：設流下效低預期→用 5-7 流率作 van Deemter 曲線（塔高 vs 線速）以得真最佳。

五：擇檢

1. 檢配分析物化學及所需靈敏
2. 簡基質定量→FID 為默認（堅、線、少修）
3. 複基質痕量析→SIM 之 MS 或 MRM 之 MS/MS
4. 鹵化痕量→ECD 最靈敏
5. 檢溫設於最高爐溫之上 20-50 C 以防凝
6. 檢氣流按廠商建議優

得：檢已擇並設合適溫與氣流以符目分析物。

敗：檢靈敏不足於所求限→考濃樣（大進量、溶發）或換更靈敏／選擇之檢。

六：驗初效

1. 備含諸目分析物於中濃之系統適用標
2. 連進 6 次
3. 評：
   • 留時 RSD：宜 < 1.0%
   • 峰面 RSD：宜 < 2.0%（痕量 < 5.0%）
   • 關鍵對分辨：Rs >= 1.5（基線）或規範法 >= 2.0
   • 峰拖因：0.8-1.5（USP T <= 2.0）
   • 塔數 (N)：驗符柱廠規
4. 進空白以確無殘留或鬼峰
5. 進基質空白以識潛在干擾於目留時
6. 諸參記於法摘

得：諸分析物符系統適用於重複進樣，目留窗無殘留或基質干擾。

敗：現拖尾→查活位（重調柱、剪進口 0.5 m、換內管）。RSD 超限→查自動進樣精及進法。分辨不足→返步三優溫程。

驗

• 諸目分析物分離，關鍵對 Rs >= 1.5
• 6 次重複留時 RSD < 1.0%
• 6 次重複峰面 RSD < 2.0%
• 諸分析物拖因在 0.8-1.5
• 空白進無殘留逾工作濃 0.1%
• 基質空白目留窗無干擾
• 總運時符通量
• 法參盡記（柱、溫、流、檢設）

忌

• 略柱流失溫限：運行於固定相最高等溫之上→基線升、鬼峰、柱速降→常查柱規
• 進樣過大：溶過多致早洗脫物前拖及分辨差→配進量於柱容（0.25 mm ID 柱分流常 0.5-2 uL）
• 錯內管配進模：不分流須單錐或雙錐去活內管；分流用含玻棉內管。錯配致重現差
• 略墊片及內管維：墊片心塊及內管污為鬼峰拖尾之首因→每 50-100 進換墊，內管按記排程換
• 略 van Deemter 優：用廠商默認流率而非實測最佳→廢效，尤換載氣時
• 柱調不足：新柱宜調（載氣下升至最高溫，無檢）以去製造殘前可用

參

• develop-hplc-method
• interpret-chromatogram
• troubleshoot-separation
• validate-analytical-method